Микроанализатор позволяет получить картину поверхности шлифа в отраженных, поглощенных и вторичных электронах в режиме сканирования при увеличении от 80 до 20 500 с регистрацией на пленку. Кроме того, выявляется распределение компонентов в Х-лучах в режиме сканирования и с регистрацией на пленке. Наконец, регистрируется на диаграмме спектр характеристического рентгеновского излучения данного элемента.

С помощью оптических микроскопов получают обширную информацию при изучении технологических особенностей получения, свойств и структуры покрытий на основе стеклообразующих и керамических материалов. Оптическая микроскопия находит применение при анализе исходного сырья с целью контроля однородности фритт, стекол, ситаллов и их фазово-минералогического состава по показателю преломления, иммерсионным методом, с применением рентгенофазового анализа.

Качество полученного в результате помола шликера, его гранулометрический состав контролируют, анализируя прямыми или косвенными методами распределение частиц по размерам.

С помощью методов оптической микроскопии получают сведения о микроструктуре, макроструктуре и минералогическом составе поверхностных, промежуточных и внутренних слоев материалов и покрытий. Сюда относятся данные о наличии и распределении тех или иных фаз, качественная и количественная оценка пористости, изменение последней в результате тепловых и других воздействий на покрытие в процессах его получения, испытаний, после эксплуатации в изделиях, а также выявление трещин, несплошностей, толщины покрытия, особенностей топографии его поверхности в зависимости от состава, способа нанесения, режима обжига, состава, свойств, способа подготовки поверхности подложки.

Методы оптической микроскопии защитных технологических, реакционно-термических покрытий и тугоплавких эмалей разрабатываются на основе методов, применяемых в петрографическом и металлографическом анализах. Однако особенности приготовления образцов и задачи исследования обусловливают необходимость выбора и создания частных методик, нередко дополняющих одна другую, а также результаты, полученные другими методами исследования.