Соединив полученные точки I-1N и Е плавной кривой, найдем линию равного запаздывания. В точках, лежащих выше кривой 1_ЫЕ (ближе к отражающей поверхности) , запаздывание будет меньше заданного, а в точках. Расположенных ниже, - больше заданного. Кривая 1_МЕ является гиперболой с фокусами в точках О и 01. Линию равного запаздывания можно построить и для криволинейной отражающей поверхности, использовав для этой цели несколько мнимых источников.

Способ построения линий равного запаздывания отражений от боковых стен (кривые dei и тпк) соответствует методу.

Линии равного запаздывания являются результатом пересечения поверхности слушательских мест с поверхностью равного запаздывания (в случае плоских отражающих поверхностей поверхность равного запаздывания будет гиперболоидом вращения). При сильном подъеме слушательских мест, наклоне отражающих поверхностей или большой высоте источника построение линий равного запаздывания будет более сложным.

Следует упомянуть еще об одном графическом приеме, позволяющем определить, какие элементы внутренних поверхностей помещения дают в данную точку площади слушательских мест первые отражения, запаздывание которых Д т. соответствует заранее заданной величине. Этот прием основан на известном свойстве эллипса, состоящем в том, что сумма расстояний от любой точки эллипса до его фокусов является постоянной величиной. Если точку расположения источника О и точку приема М рассматривать как фокусы эллипса, то указанная сумма расстояний будет равна. Все элементы внутренних поверхностей помещения, лежащие внутри эллипса, будут давать первые отражения с запаздыванием меньше Дт., а элементы, лежащие вне эллипса, - с запаздыванием больше Д Т. Построение эллипсов обычно делается в вертикальной и горизонтальной плоскостях проекций (в этих плоскостях должен лежать отрезок ОМ). В случае помещения со сложным объемно-планировочным решением такое построение может > оказаться недостаточным и приходится для выбранных точек О и м рассматривать эллипсоид вращения (вокруг его большой оси) описанный прием часто также используется при анализе.